Máy nhiễu xạ tia X để bàn FRINGE SH1827

Thiết bị chuyên dụng phân tích độ kết tinh của nhựa

Máy nhiễu xạ tia X để bàn FRINGE SH1827 chủ yếu ứng dụng công nghệ nhiễu xạ tia X và sử dụng phương pháp ghép phổ toàn dải để tính toán độ kết tinh của các mẫu vật liệu polyme. Thiết bị nổi bật với thao tác đơn giản, độ phân giải cao và độ lặp lại tuyệt vời.

Vật liệu polyme được sử dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực của xã hội hiện đại, từ bao bì thực phẩm đến kỹ thuật hàng không vũ trụ, với mỗi ứng dụng đòi hỏi các tính chất riêng biệt của vật liệu. Trong đó, độ kết tinh (Degree of Crystallinity – DOC) là chỉ số quan trọng ảnh hưởng đến đặc tính cơ học, nhiệt, mật độ và quang học của vật liệu polyme. Do đó, kiểm soát độ kết tinh đóng vai trò then chốt trong kỹ thuật vật liệu.

Các phương pháp truyền thống để đo độ kết tinh bao gồm: đo mật độ, nhiệt lượng kế (DSC), cộng hưởng từ hạt nhân (NMR), quang phổ hồng ngoại (IR), và nhiễu xạ tia X (XRD). Trong đó, XRD là kỹ thuật được công nhận và ứng dụng rộng rãi nhất, nhờ cấu hình thiết bị rõ ràng và khả năng cung cấp thông tin cấu trúc toàn diện cho vật liệu polyme.

Các phương pháp phổ biến trong XRD để xác định độ kết tinh của nhựa bao gồm: phương pháp lập bản đồ (mapping), phân tích đường hồi quy, phương pháp Ruland và phân tích ghép đỉnh từng phần trên đường cong nhiễu xạ tia X.

FRINGE SH1827 là giải pháp chuyên biệt, lý tưởng cho các phòng thí nghiệm vật liệu, trung tâm nghiên cứu polyme và ứng dụng kỹ thuật cao trong sản xuất vật liệu nhựa.

Xem thêm các sản phẩm của thương hiệu Torontech tại đây.